射频探针是我们在测试时不可少的工具，主要用于电子测试设备，对硅片、管芯及开放式微芯片中的电子电路射频（RF）信号进行测量，还用于连接器组件中窄间距或高密度射频互连应用。射频应用中使用的传输线一般为与电路板连接的同轴线缆，以及设置于电路板内部的微带线。
在对待测电路进行测试时，需要经传输线向该待测电路发送信号。它至少需要两种导体，一种为信号导体，另一种为接地导体。这些导体的结构决定了待测电路测试所需的探针类型。探针结构分为GS（接地-信号）、GSG（接地-信号-接地）以及GSSG（接地-信号-信号-接地）三种。常见的结构类型为GSG，该结构与共面波导类似。
我们为何需要使用探针？在什么情况下会使用它？
由于待测设备（DUT）的性质和构成非常敏感且通常较为精细，因此射频电路的测量往往是一项棘手任务。高可靠性射频测量中困扰最多的两大问题是：频率太高时，当前测试设备无法进行射频能量的测量；当待测电路对电气环境中的微小变化敏感时，测量中要求频率或幅度不发生扰动。这些问题可通过采用对待测电路的能量扰动尽可能小的测量探针解决，其中，高阻抗探针中的放大器能够平衡待测电路的受扰能量。在射频电路系统测试中，探针与测试设备的阻抗匹配对于能否实现有效的功率传输而言至关重要。
然而，随着测试频率越来越高，以及对测试误差的要求越来越严格，上述阻抗匹配变得越来越困难。在射频测试领域中，射频测试探针分为多种不同类型，如何选择合适的探针取决于对待接触测试点、频率或数据速率、探针可用空间以及环境条件的考量。在不久的将来，射频探针需要具有测试更小焊盘及多个信道的设计能力，以及同时覆盖多种毫米波、射频、逻辑和功率信道测量范围的能力。
根据待测电路用途的不同，建议使用工作频率与该用途匹配的探针。一些型号的探针设计可支持高达110GHz的频率。大多数射频探针的阻抗为50欧姆，但是同时也存在针对高频测试需求的高阻抗探针、差分探针及双信号探针（SGS）。
