8英寸手动探针台是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
使用方式：
1、将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。
2、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。
3、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。
4、显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节清晰，带测点在显微镜视场中心。
5、待测点位置确认好后，再调节探针座的位置，将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边，再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮，慢慢的将探针移至被测点，此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用Y轴旋钮将探针退后少许，再使用Z轴旋钮进行下针，最后则使用X轴旋钮左右滑动，观察是否有少许划痕，证明是否已经接触。
6、确保针尖和被测点接触良好后，则可以通过连接的测试设备开始测试。
8英寸手动探针台用途：
以往如果需要测试电子元器件或系统的基本电性能（如电流、电压、阻抗等）或工作状态，研发人员一般会采用万用电表的表笔去点测。随着电子技术的不断发展，对于精密微小（纳米级）的微电子器件（如IC、wafer、Chip、LCDArray、CMOSCameraModule、Pitch微小的Connector），万用表点到被测位置就显得无能为力了。于是一种高精度探针座应运而生，利用高精度微探针将被测原件的内部讯号引导出来，便于其电性测试设备（不属于本机器）对此测试、分析。
