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ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是不可少的。HANWA HED-T5000 传输线脉冲 (TLP)测试设备
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC
TLP 测试机
l 用于获取器件保护电路的相关参数特性
l 为器件升级提供支持,缩短产品周期
l 提供普通和VF(非常快)型号。VF模型提供正常(100nm / 200nm)和VF(1nm-)脉冲宽度。
l 具有半自动探针台整合功能的可选自动测试可大大提高生产率。
l 可与HED-W5000,ESD(HBM,MM)测试仪结合使用现在提供大电流输出型号(T5000-HC)。
HANWA HED-T5000 传输线脉冲 (TLP)测试设备
此设备是对保护电路的工作特性进行模拟测试的设备
对集成电路里保护电路的工作参数的收集与分析有很大帮助
也可进行VF-TLP测试
产品名/型号 | 设备说明 | 设备介绍视频 |
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HED-T5000/ | 此设备配备了先进的测试模式 | |
HED-T5000-HC | 目前,对于半导体器件的高集成度・高频・高耐压的需求逐年增加 |
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