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  • GCP110射频探针
    GCP110射频探针

    现代射频集成电路的设计调试和测试是另一项复杂的任务。 除了射频输入和输出信号外,设备还需要无振荡偏置以及数字控制信号(例如,用于改变放大器的增益)。所有这些都需要通过为每个产品单独配置的尽可能小的接触垫传送到集成电路。基于多年射频探测技术实操经验和深耕,为满足国产测试需求而研制,可N个触点射频探测技术,快速测试您的RF IC。

    更新时间:2024-12-27型号:GCP110访问量:344
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  • GCP50射频探针
    GCP50射频探针

    现代射频集成电路的设计调试和测试是另一项复杂的任务。 除了射频输入和输出信号外,设备还需要无振荡偏置以及数字控制信号(例如,用于改变放大器的增益)。所有这些都需要通过为每个产品单独配置的尽可能小的接触垫传送到集成电路。基于多年射频探测技术实操经验和深耕,为满足国产测试需求而研制,可N个触点射频探测技术,快速测试您的RF IC。

    更新时间:2024-12-27型号:GCP50访问量:352
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  • GCP67射频探针
    GCP67射频探针

    现代射频集成电路的设计调试和测试是另一项复杂的任务。 除了射频输入和输出信号外,设备还需要无振荡偏置以及数字控制信号(例如,用于改变放大器的增益)。所有这些都需要通过为每个产品单独配置的尽可能小的接触垫传送到集成电路。基于多年射频探测技术实操经验和深耕,为满足国产测试需求而研制,可N个触点射频探测技术,快速测试您的RF IC。

    更新时间:2024-12-27型号:GCP67访问量:333
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  • GCP40射频探针
    GCP40射频探针

    现代射频集成电路的设计调试和测试是另一项复杂的任务。 除了射频输入和输出信号外,设备还需要无振荡偏置以及数字控制信号(例如,用于改变放大器的增益)。所有这些都需要通过为每个产品单独配置的尽可能小的接触垫传送到集成电路。基于多年射频探测技术实操经验和深耕为满足国产测试需求而研制,可N个触点射频探测技术,快速测试您的RF IC

    更新时间:2024-12-27型号:GCP40访问量:355
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