TLP的用途 TLP是指传输线脉冲。当同轴电缆中的电荷放电时，会产生矩形波形。我们可以利用这种现象来检查半导体的保护电路特性。重要因素是矩形波形的上升时间。保护电路特性取决于矩形波形的上升时间较快或较慢。因此，将上升时间从高频更改为低频非常重要。TLP测试仪需要小于200 [ps]的上升时间作为理想波形。

系统简介：

公司提供半导体设备所需的ESD（静电击穿）测试系统解决方案。现在我们带你简单了解下TLP测试。TLP（传输线脉冲）测量是向晶体管或集成电路施加脉冲，并获取有关ESD保护元件或ESD保护电路的电压（V）/电流（I）特性的数据。在集成电路的ESD保护设计中，了解具有短时间常数（例如ESD浪涌）的脉冲波，被保护元件或被保护元件可以承受的IV特性以及多少电流。那很重要。即使正常的直流测量导致热破坏，使用TLP器件进行测量也不太可能引起热破坏，并且有可能确认和获取大电流区域（〜10A）的特性。此外，通过在实际集成电路中使用TLP测量，它不仅可以用作ESD保护设计，还可以用作由ESD引起的缺陷的分析工具。