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HED-W5100D 全自动晶圆ESD测试机

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ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是不可少的。 HED-W5100D 全自动晶圆ESD测试机 l 最高支持12英寸 300mm晶圆ESD测试方案 l 测试效率高，自动探针台和晶圆映射程序启用了全自动晶圆级ESD测试 l 同时支持package测试 l 配备CCD相机 l 可以与Hanwa TLP测试仪，HED-T5000和T5000VF l Woks 集成在一起，作为不带插座板的高引脚数封装级测试仪。 l SCM（10pF浪涌）选项可用。公司已经与多家世界的半导体器件和精密测试领域的品牌厂商签订合作。这些品牌包括：探针台系统制造商MPI；世界微波组件和测试系统制造商MAURY；测量仪器制造商KEYSIGHT；的模型服务商Modelithics；EDS设备日本HANWA和TOTOKU等。凭借着多年的行业经验及技术积累，我们可以为客户提供半导体在片测试解决方案、材料电性能测试设备、微波射频器件测量等测试技术服务

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