该系统搭载了南京芯测探针台系统，是一套卓越的微光显微成像系统，通过使用探测器探测电路发出的微光子和激光刺激引起回路电信号变化来定位电路的失效点并通过图像的方式呈现出来。

• 通过NIR红外线偏光显微镜对芯片进行BACK SIDE穿透分析

• 正面及背面光子发光侦测功能

• 满足Si CMOS,GaAs pHEMT、等失效芯片的漏电检测。