测芯新品 GP2000-AD |APD光学传感器测量系统

APD（雪崩光电二极管） 有个独特优势 —— 能通过雪崩倍增效应，把光转换成的微弱电信号直接放大成千上万倍；而且和体积偏大的 PMT（光电倍增管）比起来，APD 的体积要小很多，同时还具备高灵敏度、高信噪比的特点。正因为这些优势，它在激光测距、激光制导、大气探测、荧光分析等领域应用广泛，如今为了进一步提升激光雷达的成像速率和精度，阵列式 APD 也在激光雷达领域快速发展。但是由于APD的面积较小、测试数量较多、对于外接光源要求高、器件种类较多等问题，一直困扰着使用者。GP2000-AD系列可以完美解决APD测试所需的问题。

因APD芯片的尺寸越来越小，像元矩阵数量越来越多，外加应用场景从可见光到不可见光都有，传统的探针台测试系统或夹具已经无法满足芯片的微米级探测，主要表现在以下几方面：一、芯片的测试点很小，一般在10um内。二、在测试过程中需要有极度稳定的平台，保证探针不会发生偏移，否则会影响测试数据。三、芯片需要有机器准确的温度环境。四、批量切割后的芯片需要耗费大量的人力去做重复的测试工作，效率极低，严重影响研发进度，且人工测试的重复性较差。五、需要搭载小光斑及均光系统等。面临这些问题，利用高端GP2000-AP测试分选一体机，即可完美解决。

GP2000-AD适用于8″及以下晶圆、不规则晶圆、MPW晶圆、单芯片的常温和高温自动化探针测试；GP2000-AD 测试分选机可选多种光路模块，并可按照客户的要求定制方案。

GP2000-AD能显著提升 APD 芯片测试效率、精度与数据可靠性，适配激光雷达等多领域应用需求。