相比于 CCD、CMOS、PIN 这类常见的光电探测器，APD（雪崩光电二极管） 有个独特优势 —— 能通过雪崩倍增效应，把光转换成的微弱电信号直接放大成千上万倍；而且和体积偏大的 PMT（光电倍增管）比起来，APD 的体积要小很多，同时还具备高灵敏度、高信噪比的特点。正因为这些优势，它在激光测距、激光制导、大气探测、荧光分析等领域应用广泛，如今为了进一步提升激光雷达的成像速率和精度，阵列式 APD 也在激光雷达领域快速发展。但是由于APD的面积较小、测试数量较多、对于外接光源要求高、器件种类较多等问题，一直困扰着使用者。GP2000-AD系列可以完美解决APD测试所需的问题

本系统通过软件控制激光器、高精度电源、阻抗分析仪、全自动单片一体机及相应的屏蔽改造，实现APD参数测试及相关表征。测试时的上下料可选：

u 可实现单DIE或碎片测试；

u 可实现完整Wafer测试，兼容2、4、6、8英寸；

u 可实现8英寸蓝膜上料测试并分选至蓝膜或膜盒；

膜盒上料（数量可定制）测试后分选至蓝膜或膜盒。

 GP2000-AD 系列 APD 芯片全自动测试方案，专为解决 APD 芯片面积小、测试数量多、对光源要求高及器件种类多等痛点设计，可兼容 8 英寸及以下完整晶圆、单 DIE、碎片、蓝膜 / 膜盒装载芯片的常温与高温（最高 150℃）自动化测试及分选，支持无光 / 有光环境下的电压 - 电流、电流 - 电压测试、高压 CV 测试、BV 快速确定等基础功能，还可拓展小光斑（＜10um）串扰测试、高低温（-60~300°C）表征、自动耦合等附加功能；硬件方面具备三同轴屏蔽腔、全遮光屏蔽、AutoXYZT 自动对位补偿、高精度温控与定位系统等优势，搭配自主研发的 GBITEST 平台化系统软件，支持 Map 管理、多格式数据保存、分级权限控制、测试报告生成等丰富功能，通过 LAN、PXI、GPIB 等多种接口实现高效控制，能显著提升 APD 芯片测试效率、精度与数据可靠性，适配激光雷达等多领域应用需求。