MRAM磁存储器晶圆级自动化测试解决方案

方案概述

在数据驱动的时代，磁存储器（MRAM）凭借高存储密度、超长数据保持能力和优异的低功耗特性，已成为下一代非易失性存储技术的核心。作为现代信息技术领域的关键存储器件，MRAM的性能与可靠性直接决定了数据存储系统的稳定性。

南京芯测提供MRAM磁存储器晶圆级自动化测试解决方案，通过软硬件深度协同，实现对磁存储器芯片MTJ结构的R-H、R-V、Psw等关键电参数的全面测量与提取，助力客户精准把控工艺质量，提升产品良率与生产效率。

核心测试能力：

1）

系统架构

1）硬件平台

全自动探针台（推荐：芯测GP2000）

磁场系统可控 3D 磁场搭载，支持多维度磁场校准

 高低温透磁 Chuck 升级，满足宽温域测试需求

 射频/直流探针兼容搭载，灵活应对不同测试场景

2)探针方案

定制型射频/直流多点专用探针卡：适合低成本大批量量产测试

 高精度探针座：满足灵活多变的研发验证需求

芯测软件平台 

核心功能：

可视化 Map 管理：支持创建、编辑、导入导出；百万级 Die 兼容，多种 BIN 颜色标识

向导式硬件配置：LAN/PXI/GPIB 多拓扑架构，一键连接探针台与仪表

智能测试执行：单次/循环运行模式，预测试快速验证，连续测试高效量产

实时数据监控：R-H 曲线实时显示，Smith/dB 等多维度数据呈现

SPEC 文件导入：一键导入配置文件，快速建立测试标准与分 Bin 规则

后端数据分析：直方图分布统计、Pass/Fail Map 自动生成、测试报告一键导出

数据库管理：灵活创建数据表与字段，支持自定义数据保存与导出

多级权限管理：管理员/操作员双模式，保障工艺数据安全