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  • GP200-8英寸手动探针台
    GP200-8英寸手动探针台

    GP200包含DC~THZ测试所需的完整配置,能够在最短时间内准确地完成测试要求。提供专业的测试方案,能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。

    更新时间:2024-04-02型号:访问量:1812
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  • GP200-SE8英寸高低温探针台
    GP200-SE8英寸高低温探针台

    GP200SE 8英寸高低温探针台包含DC~THZ测试所需的完整配置,能够在最短时间内准确地完成测试要求。提供专业的测试方案,能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。GP200SE拥有稳定且可靠的测试平台,保证测试中的扎针质量。优异的光学系统结合分辨率<2μm的针座系统,确保扎针的稳定性。

    更新时间:2024-06-13型号:GP200-SE访问量:1736
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  • GP200SiPH硅光探针台
    GP200SiPH硅光探针台

    硅光探针台,GP200-SIP系列8英寸探针台包含硅光芯片的DC&RF&OO测试所需的完整配置,在短时间内可准确地完成芯片的参数测试与提取。 GP200拥有稳定且可靠的测试平台,保证测试中的扎针质量。优异的光学系统结合分辨率<2μm的针座系统,确保扎针的稳定性。

    更新时间:2024-06-12型号:GP200SiPH访问量:1539
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  • GP2000/GP2000-SEGP半自动探针台
    GP2000/GP2000-SEGP半自动探针台

    GP半自动探针台,GP2000-SE 高低温探针台。机台可轻松实现DC ~ THZ测量,提供芯片级I-V / C-V低噪声测试系统方案。可应用于I-V/C-V/P-IV测试、1/f噪声测试、射频/毫米波测试、功率测试、Load-Pull测试等。

    更新时间:2024-06-12型号:GP2000/GP2000-SE访问量:6327
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  • GP300探针台
    GP300探针台

    大功率探针台,GP300探针台让您的芯片测试更加简单,机台可轻松实现DC ~ THZ测量,提供芯片级I-V / C-V低噪声测试系统方案。

    更新时间:2024-04-02型号:访问量:6064
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  • GP200探针台
    GP200探针台

    温控探针台,进口探针台,GP200探针台包含DC~THZ测试所需的完整配置,能够在短时间内准确地完成测试要求。 提供专业的测试方案,能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。

    更新时间:2024-04-02型号:访问量:6129
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  • TS200-SEMPI 8英寸射频高低温手动探针台
    TS200-SEMPI 8英寸射频高低温手动探针台

    8英寸手动探针台,射频探针台,高压探针台,MPI 8英寸射频高低温手动探针台具有ShielDEnvironment™的MPI TS200-SE探针系统可提供最大的EMI屏蔽,并允许进行低噪声的器件在片测量,从而可广泛用于各种应用,例如器件表征和建模,RF /微波,晶片级可靠性,故障分析,设计验证,和大功率。

    更新时间:2024-04-02型号:TS200-SE访问量:7676
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  • TS2000-DP半自动|MPI 8英寸高压探针台
    TS2000-DP半自动|MPI 8英寸高压探针台

    高压探针台通过TS2000-DP,MPI提供了一个多功能且经济高效的探针台,半自动|MPI 8英寸高压探针台适用于20°C至300°C温度范围内的晶圆上高功率器件测量,测量能力高达3 kV(三轴)/ 10 kV(同轴)和600 A(脉冲)。

    更新时间:2024-04-02型号:TS2000-DP访问量:1307
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