GP200包含DC~THZ测试所需的完整配置，能够在最短时间内准确地完成测试要求。提供专业的测试方案，能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。

GP200SE 8英寸高低温探针台包含DC~THZ测试所需的完整配置，能够在最短时间内准确地完成测试要求。提供专业的测试方案，能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。GP200SE拥有稳定且可靠的测试平台，保证测试中的扎针质量。优异的光学系统结合分辨率＜2μm的针座系统，确保扎针的稳定性。

硅光探针台,GP200-SIP系列8英寸探针台包含硅光芯片的DC&RF&OO测试所需的完整配置，在短时间内可准确地完成芯片的参数测试与提取。$nGP200拥有稳定且可靠的测试平台，保证测试中的扎针质量。优异的光学系统结合分辨率＜2μm的针座系统，确保扎针的稳定性。

GP半自动探针台，GP2000-SE 高低温探针台。机台可轻松实现DC ~ THZ测量，提供芯片级I-V / C-V低噪声测试系统方案。可应用于I-V/C-V/P-IV测试、1/f噪声测试、射频/毫米波测试、功率测试、Load-Pull测试等。

大功率探针台,GP300探针台让您的芯片测试更加简单，机台可轻松实现DC ~ THZ测量，提供芯片级I-V / C-V低噪声测试系统方案。

进口探针台,GP200探针台包含DC~THZ测试所需的完整配置，能够在短时间内准确地完成测试要求。 提供专业的测试方案，能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。

8英寸手动探针台,射频探针台,高压探针台,MPI 8英寸射频高低温手动探针台具有ShielDEnvironment™的MPI TS200-SE探针系统可提供最大的EMI屏蔽，并允许进行低噪声的器件在片测量，从而可广泛用于各种应用，例如器件表征和建模，RF /微波，晶片级可靠性，故障分析，设计验证，和大功率。

高压探针台通过TS2000-DP，MPI提供了一个多功能且经济高效的探针台，半自动|MPI 8英寸高压探针台适用于20°C至300°C温度范围内的晶圆上高功率器件测量，测量能力高达3 kV（三轴）/ 10 kV（同轴）和600 A（脉冲）。