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HANWA HED-C5000R CDM测试设备

简要描述:适用于汽车芯片可靠性测试AEC标准中~静电CDM测试设备

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-04-02
  • 访  问  量:823

详细介绍

HANWA HED-C5000R CDM测试设备

ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是不可少的。HANWA HED-C5000R CDM测试设备


HED-C5000R


CDM机2



Hanwa CDM测试机

l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ,AEC,EIAJ),

l 可快速转换不同标准的测试

l   台式尺寸,紧凑,准确可靠的CDM测试仪。

l   配备的CCD摄像机

l   提供FI-CDM和D-CDM模式。

l   可以测量每个引脚的电容。

尺寸:W575 x D400 x H300 Weight 35Kg  Compact Desktop Size


CDM 测试机

此设备是用来测试接触不同电位物质时的破坏性设备

产品名/型号设备说明设备介绍视频

HED-C5000R
HED-C5000R

此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备

(满足JEITA / ESDA / JEDEC规格)可通过交换放电电路组件支持日本国内及国际的测试规格

可测量器件的各个端子的容量,测试数据可保存为文本文件形式




click


符合所有主要国际标准:



标准

标准版号

模式

校准工具


1

ESDA/JEDEC

Joint Standard

AEC101/102

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014


FI-CDM


Small/Large coin(disk)


2


JEDEC


JESD22-C101F


FI-CDM


Small/Large coin(disk)


3


ESDA


ANSI/ESD S5.3.1-2009


FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1)  D-CDM: 4pF/30pF module (*2)


4


AEC


AEC - Q100-011 Rev-C1


FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1)  D-CDM: 4pF/30pF module (*2)


5


JEITA


JEITA ED-4701/302 (Method 305C)


D-CDM

Small/Large coin(disk)

+

FR-4 board


image.png





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