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HANWA ESD测试全部设备简介

简要描述:芯片ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是不可少的。HED-W5000M 晶圆ESD测试机

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-04-02
  • 访  问  量:1186

详细介绍




产品名/型号设备说明设备介绍

HED-G5000
HED-G5000

全自动静电破坏装置的高性能版本出现了

测试符合国际标准是可能的。
(JEDEC,ESDA,AEC, JEITA)

该系统*的短路放电电路由原机设计成为可能。

短路可最大限度地减小电感和电容对数据的影响。
另外,通过使用单个电路,保证了每个器件引脚的数据稳定性。



HED-S5000-DCPC
HED-S5000R-D

全自动静电放电设备的传统机台

此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备

(满足JEITA / ESDA / JEDEC规格)可用于闩锁测试,并适用脉冲电流法·电源过电压·ESD脉冲印加法




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HED-S5000
HED-S5000R

销售实绩.1

可以通过连接曲线图示仪来轻松地判断pass/fail

可根据测试管脚数以及测试用途来选择型号



HED-N5000-DCPC
HED-N5000-DCPC

多管脚高性能全自动静电放电测试机

最大可进行8个器件的测试。最大测试管脚数1024Pin

虽然有一定的限制,但是可以复数同时印加

是满足日本、国际规格的高可靠性设备

(满足JEITA/ESDA/JEDEC规格) 可用于闩锁测试,并适用脉冲电流法·电源过电压·ESD印加法

也可通过DC测试判断pass/fail,以及作为可添加选项,可以利用向量来进行功能测试


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HCE-5000
HCE-5000

桌上型ESD测试仪

测试操作简单的便携式静电放电测试设备

兼容泄露测试功能,可单独利用本设备进行ESD的破坏判断




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HPE-5000
HPE-5000

便携式ESD测试仪

本设备是测试半导体器件的静电破坏强度的设备

作为便携式小型ESD测试机的系列型号,更轻,更小,更加低成本

与本公司传统小型ESD测试机同样,用来特化两管脚间的静电印加,维持与通用设备同等的基本性能(利用ESD印加与漏电流测试来判断pass/fail)



HANWA ESD测试全部设备简介

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