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全自动芯片ESD测试设备

简要描述:Hanwa ESD HED-G5000 全自动静放电测试设备
近年来,自动驾驶技术逐渐成为Tier1汽车电子智能系统的超前先进技术,解决自动驾驶技术的关键在于提升自动驾驶芯片的可靠性,保障汽车运行中的安全。目前国内尚未有关于汽车芯片可靠性的标准,而是基于国际AEC-Q100系列标准而进行汽车芯片可靠性测试,其中一环节就是要对汽车芯片进行CDM和HBM的静电相关测试。

  • 产品型号:HED-G5000
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-12-12
  • 访  问  量:231

详细介绍

日本Hanwa-HED-G5000全自动HBM/MM/Latch-up测试机、HANWA ESD测试机

产品概要:

HANWA新一代G5000系列ESD 全自动静电破坏检测机已上市,搭载多Pin脚无继电器的GND模组(最高支持MAX2048pin),不受寄生电容的影响,实现高精度检测。此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备 (满足JEITA / ESDA / JEDEC规格)可用于闩锁测试,并适用脉冲电 流法·电源过电压·ESD脉冲印加法。汽车电子AEC-Q100标准,车规级集成电路可靠性静电HDM/CDM测试

技术优势:

1、适应以下国际标准波形: JEDEC,ESDA,AEC和JEITA。
2、该系统
特别的短路放电电路可通过其原始机械设计实现。
3、短路最大限度地减少电感和电容对数据的影响。
4、使用单个电路可确保每个器件引脚的数据稳定性。

主要应用:

芯片静电破坏自动测定装置


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