8英寸手动探针台,射频探针台,高压探针台,MPI 8英寸射频高低温手动探针台具有ShielDEnvironment™的MPI TS200-SE探针系统可提供最大的EMI屏蔽，并允许进行低噪声的器件在片测量，从而可广泛用于各种应用，例如器件表征和建模，RF /微波，晶片级可靠性，故障分析，设计验证，和大功率。

射频| MPI 8英寸毫米波手动探针台 无缝集成任何带状，差分或宽带频率扩展器，最高可达1.5 THz和/或自动阻抗调谐器

MPI 8英寸手动探针台 MPI探针台系统专业提供探针台及所有相关直流/射频附件以及相关半导体测试整体解决方案。

高功率探针台,大功率探针台,手动|MPI 6英寸高功率探针台适用于高功率器件量测和其他多种晶圆量测应用，如组件特性描述和建模，晶圆级可靠性。

大功率探针台,手动|MPI 6英寸毫米波探针台是一种专用的，经济高效的手动探头系统，专为基板和亚太赫兹150 mm晶圆的精密分析而设计。

MPI 8英寸高功率手动探针台 MPI高功率器件表征系统专为晶圆上高功率器件测试而设计。MPI TS150-HP和TS200-HP探头系统提供完整的150 mm和200 mm晶圆解决方案。它们设计用于在宽温度范围内实现功率半导体的低接触电阻测量。

MPI 8英寸高低温探针台便利的晶圆单片上片，搭配简单快速的晶圆预对准功能，实现自动化流程简单化。

高功率探针台,大功率探针台,MPI 8英寸大功率半自动探针台$nMPI的自动化TS2000-HP可在宽温度范围内提供可靠的晶圆上大功率设备测量，并且测量能力高达3 kV（三轴）/ 10 kV（同轴）和600 A（脉冲）。先进的ShielDEnvironment™提供低噪声和屏蔽的测试环境。